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如何解释技术节点分类

2025-7-1
如何解释技术节点分类
中国大陆以 28nm美国以 18nm 为界,划分先进及成熟制程。中国大陆对先进和成熟制程之定义较为宽松,即 28nm 及以上的芯片制程为成熟制程,小于 28nm 的为先进制程。如此定义的科学依据是根据芯片设计:当晶体管的尺寸小于 25 纳米以下时,传统的平面场效应管(planarfield effect transistor planar FET)尺寸已经无法缩小,所以须采用鳍式场效应晶体管(FinFET)以将场效应管立体化,方能达到更小的制程。第 23 代 28 纳米制程为能采用平面场效应管,用于大规模商业化量产芯片的最后一代制程,和其他更早更大,均采用平面场效应管的制程,一起被归入成熟制程。美国对先进和成熟制程之定义较中国大陆为严格,即大于 18nm 的芯片制程为成熟制程,小于等于 18nm 的为先进制程。如此定义的科学依据是根据芯片生产设备:干式光刻机即使采用多重曝光技术,也无法达到大规模商业化量产 1618 纳米芯片所需的良率,因此从第25 代 1618 纳米制程起,必须只能采用湿式光刻机,芯片生产成本和技术难度也随之大幅增加。