> 数据图表你知道2.2 SoC测试机：芯片复杂性及支撑提高显著提升测试需求2025-9-02.2 SoC测试机：芯片复杂性及支撑提高显著提升测试需求⚫ 2010s的测试流程相对简单，测试量较少。由于此时集成电路的复杂度相对较低，晶体管的数量和种类较少，所以测试的需求和复杂性都相对较低。同时由于测试技术的限制和简单的芯片设计，所以前道和后道的测试量大致相当。⚫ 这一时期芯片仅需进行三种类型测试：（1）晶圆端测试的扫描测试；（2）最终测试的扫描测试；（3）系统级测试中的任务模式测试。◆ 图：2010s的测试流程相对简单数据来源：爱德万，东吴证券研究所22东吴证券综合其他
