> 数据图表想问下各位网友2.2 SoC测试机：测试类型与用途广泛，可应用多种测试需求2025-9-02.2 SoC测试机：测试类型与用途广泛，可应用多种测试需求⚫ SoC测试机用途广泛，也能够适配部分存储、数字、模拟等测试需求。凭借其强大的电源和板卡资源性能，SoC测试机不仅可以用于测试SoC芯片，而且通过调整板卡配置，还能用于测试数字电路、模拟电路、存储器、I/O、功耗和电磁干扰。测试类型涵盖扫描测试、功能测试、内建自测试等多种模式，其中应用最广泛的是扫描测试。◆ 表：SoC测试机测试领域、测试类型与用途广泛测试领域测试类型工作原理用途扫描测试（SCAN）通过扫描链将内部触发器转变为可观测的节适用于大规模集成电路，能够高点，用于检测内部逻辑电路的故障效检测制造缺陷数字电路测试自动测试向量生成测试（ATPG）逻辑内建自测试（LBIST）生成能够检测到电路中所有潜在故障的测试向量进行检测利用内部生成的伪随机测试向量对逻辑电路进行自测试DC测试检测直流参数如输入输出电压、电流提高测试覆盖率和故障检测能力帮助发现难以预测的故障模式确保模拟电路的基本功能符合设计要求模拟电路测试存储器测试I/O测试功耗测试模拟多路复用器（MUX）测试对数模接口信号进行多路选择测试验证模拟信号的准确性和稳定性内建自测试（MBIST）存储器旁路模式测试JATG协议测试边界扫描寄存器测试（BSR）对RAM、ROM等存储器的内部故障进行自确保存储器的可靠性和数据完整测试性在基本扫描测试中使用旁路模式对存储器进行覆盖测试提高存储器测试的效率和覆盖率通过IEEE 1149标准，实现板级互连线测试检测和诊断芯片的输入输出接口和芯片内部IP调试问题在芯片的输入输出引脚上插入扫描寄存器进实现测试信号的可控和可观测，行测试静态电流（IDDQ）测试测量芯片在静态条件下的电流低功耗模式测试在不同低功耗模式下测量芯片的电流消耗提高测试的灵活性和效率检测漏电流和短路故障，确保芯片的能效和可靠性验证芯片在低功耗状态下的性能和功耗表现电磁干扰测试静电放电测试通过人体放电模型（HBM）、机器放电模型确保芯片在实际使用中的电磁兼（MM）等方法测试芯片对静电的耐受性容性和可靠性数据来源：各公司官网，昇腾社区，百度百科，极术社区，CSDN，东吴证券研究所整理24东吴证券综合其他
