> 数据图表如何才能2.4 测试机核心难点：测试工艺核心为数字电路功能测试2025-9-02.4 测试机核心难点：测试工艺核心为数字电路功能测试⚫ IC 测试是指依据被测器件（DUT）特点和功能，给DUT提供测试激励（X），通过测量DUT输出响应（Y）与期望输出做比较，从而判断DUT是否符合格。根据器件类型，IC测试可以分为数字电路测试、模拟电路测试和混合电路测试。数字电路测试是IC测试的基础，绝大部分现代芯片测试都需要数字IC测试。数字IC 测试一般有直流测试、交流测试和功能测试。⚫ 功能测试是数字电路测试的根本，用于验证IC是否能完成设计所预期的工作或功能，一般在ATE上进行。ATE可以根据器件在设计阶段的模拟仿真波形，输入一系列有序或随机组合的测试图形，以电路规定的速率作用于DUT，再在电路输出端检测输出信号是否与预期图形数据相符，以此判别电路功能是否正常。其关注的重点是图形产生的速率、边沿定时控制、输入/输出控制及屏蔽选择等。◆ 图：功能测试结构需要比较输出信号是否与预期一致数据来源：《集成电路测试技术》（武乾文），东吴证券研究所32东吴证券综合其他
