> 数据图表各位网友请教一下2.4 测试机核心难点：测试板卡与专用芯片为核心壁垒2025-9-02.4 测试机核心难点：测试板卡与专用芯片为核心壁垒⚫ 测试板卡是ATE设备核心硬件，仅需更换测试板卡就可实现多种类测试以及测试性能提升，无需更换机器。以V93000为例，在更换AVI64板卡之后可以测试电源及模拟芯片；更换PV18板卡后可以实现高速高精度的大功率电压/电流测量；更换WaveScale MX板卡后可实现高并行，多芯片同测及芯片内并行测试。⚫ 测试板卡中主要包括PE（Pin Electronics）芯片、TG（Time Generation）芯片和主控芯片等专用芯片。其中PE主要用于各种高精度电平电流的提供和测量，TG负责所有波形的时序控制，主控芯片控制测试通道的具体工作。⚫ （1）PE和TG芯片：由于技术难度极大、市场空间较小，被ADI、TI等公司垄断；（2）主控芯片：多采取ASIC架构以保证测试速度，而ASIC架构芯片的开发需要极大的成本和漫长的迭代时间，进入门槛极高，如果采用相对易开发的FPGA架构则仅有最多800Mbps的数字通道速度，远远达不到现有测试要求，800Mbps以上的高端机型需要用到自己研发的ASIC芯片。◆ 图：V9300通过更换不同测试板卡适用于不同功能◆ 图：不同类型板卡需要不同种类专用芯片数据来源：ADVANTEST官网，专业集成电路测试网，东吴证券研究所33东吴证券综合其他
