> 数据图表谁知道集成电路生产及测试具体流程2026-4-0(一)测试机是芯片良率的核心把关者,SoC 与存储测试占据价值高地测试环节贯穿芯片制造全流程,是保障良率与性能的核心把关者。 在集成电路制造流程中,测试设备的核心用途在于后道环节,是保障芯片性能与良率的关键装备。从设备类型看,测试体系主要由三部分构成:测试机(ATE)负责测试程序执行与数据处理,是整个系统的核心探针台用于晶圆级测试中的自动对位与接触分选机则在封装完成后负责芯片的自动传输与分级筛选。三类设备在功能上相互配合,分别服务于 CP 测试与 FT测试两个关键节点。华创证券科技传媒