谁知道功率器件测试环节

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2026-8-0

2）功率器件测试：晶圆级老化系统主要用于功率芯片在晶圆阶段的老化测试。功率芯片 KGD 分选测试系统主要面向裸 Die 环节，用于完成功率芯片分选测试，提升后续封装和应用环节的可靠性。